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類目 |
典型值 |
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晶型 / 尺寸 |
4H-p、3C 4或6英寸 |
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CMP晶面 |
(0001)Si晶面 |
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偏角 |
偏[11-20]4度 |
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導電性 |
n型 / p型 |
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摻雜 |
氮 / 鋁 |
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載流子濃度 |
范圍 |
1E15 ~ 5E16 cm-3 |
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容忍度 |
±15% |
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均勻度 |
≤10% |
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厚度 |
范圍 |
5 ~ 100 μm |
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容忍度 |
±10% |
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均勻度 |
≤4% |
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表面粗糙度 |
≤ 2 nm |
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注釋：
厚度及載流子濃度測試方法通常為9點（去邊=5mm)（如圖），客戶可指定測試方法。
① 載流子濃度使用MCV測試儀進行測量。
② 厚度使用紅外光譜儀進行測量。
③ 表面粗糙度使用原子力顯微鏡進行測量，掃描尺寸為10×10 μm2。
*注：我司可根據客戶定制參數更嚴格的外延片。
